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  • TSD -150F-2F冷熱交替沖擊試驗箱

    冷熱交替沖擊試驗箱又名溫度沖擊試驗箱,是模擬產品在高低溫環(huán)境之間瞬間轉換的可靠性試驗設備。其主要用途在于發(fā)現(xiàn)和評估測試產品(如電子元器件、材料等)在劇烈溫度變化下的熱脹冷縮效應,從而暴露其潛在的性能缺陷、失效問題,是提升產品耐用性、可靠性與質量的關鍵工具。

    更新時間

    2025-12-31

    設備型號

    TSD -150F-2F

    瀏覽量

    848

  • TSD -100F-2F溫度冷熱沖擊試驗箱

    溫度冷熱沖擊試驗箱 又名環(huán)境試驗機,試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、食品、車輛、金屬、化學、建材等工廠之用。

    更新時間

    2025-12-31

    設備型號

    TSD -100F-2F

    瀏覽量

    820

  • TSD -36F-2F兩箱式冷熱沖擊試驗箱

    兩箱式冷熱沖擊試驗箱 模擬的是一種惡劣的溫度環(huán)境,來對金屬、塑料、橡膠、電子等材料進行篩選和考核,可作為產品改進的依據或參考。試驗產品在瞬間下經*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度,得以在短時間內檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學變化或物理傷害。

    更新時間

    2025-12-31

    設備型號

    TSD -36F-2F

    瀏覽量

    766

  • TSD-36F-2P汽車零部件冷熱沖擊試驗箱

    汽車零部件冷熱沖擊試驗箱是專為測試汽車零部件耐溫度驟變性能而設計的高可靠性環(huán)境試驗設備。它通過瞬間在高溫和低溫環(huán)境之間轉換,嚴苛考核產品的材料、工藝及結構在膨脹與收縮應力下的失效情況,是提升汽車整車質量與安全性的關鍵檢測工具。

    更新時間

    2025-12-31

    設備型號

    TSD-36F-2P

    瀏覽量

    786

  • TSD-150F-2PLED燈具冷熱沖擊試驗箱 光衰測試

    LED燈具冷熱沖擊試驗箱 光衰測試是專用于測試LED燈具及其驅動電源耐高低溫驟變能力的可靠性環(huán)境試驗設備。它通過瞬間的極冷極熱溫度轉換,加速材料熱脹冷縮效應,從而在短時間內暴露出產品潛在的設計缺陷和工藝問題,是保障LED產品質量與壽命的關鍵檢測儀器。

    更新時間

    2025-12-31

    設備型號

    TSD-150F-2P

    瀏覽量

    934

  • TSD-100F-3P三箱式冷熱沖擊試驗箱 高低溫急速轉換

    三箱式冷熱沖擊試驗箱 高低溫急速轉換采用提籃式結構設計,將高溫區(qū)、低溫區(qū)和測試區(qū)隔離。測試時,通過精密機械傳動系統(tǒng)將待測樣品籃快速在高、低溫箱之間移動,實現(xiàn)溫度的急劇變化。箱體采用優(yōu)質不銹鋼板材,內部結構堅固,確保長期運行的穩(wěn)定性和可靠性。設備集成超溫保護、漏電保護等多重安全裝置,保障用戶操作安全。

    更新時間

    2026-03-02

    設備型號

    TSD-100F-3P

    瀏覽量

    811

  • TSD-36F-2P冷熱循環(huán)測試箱

    冷熱循環(huán)測試箱 設備用于電工、電子、儀器儀表及其它產品、零部件及材料在高低溫交變濕熱環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應性試驗;是各類電子、電工、電器、塑膠、光纖、LCD、晶體、電感、PCB、電池、電腦、手機等原材料和器件進行耐寒、耐熱、耐濕、耐干性試 驗及品管工程的可靠性測試設備。

    更新時間

    2025-12-31

    設備型號

    TSD-36F-2P

    瀏覽量

    809

  • TSD-80F-2P冷熱沖擊測試箱 半導體器件可靠性試驗

    冷熱沖擊測試箱 半導體器件可靠性試驗是專為評估半導體器件(如芯片、集成電路、功率模塊、傳感器等)在溫度快速變化下的可靠性、耐久性及失效模式而設計的高精度環(huán)境試驗設備。它通過模擬嚴苛的溫度沖擊環(huán)境,在極短時間內實現(xiàn)高溫與低溫的交替轉換,有效激發(fā)產品的潛在缺陷,是半導體行業(yè)研發(fā)、質量控制和認證中關鍵設備。

    更新時間

    2026-01-30

    設備型號

    TSD-80F-2P

    瀏覽量

    959

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